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反激實(shí)測(cè)波形中引述的一些問(wèn)題探討(上)

  反激波形細(xì)節(jié)探討和一些見(jiàn)解,見(jiàn)目錄: 1,MOSFET 源極流出的電流(Is)波形,分析和改善2,MOSFET 柵極Vgs波形,關(guān)于密勒平臺(tái)原理及改善3,Vds電壓波形,關(guān)于尖峰電壓的尖峰振鈴解決的一些辦法以及引伸的一些探討4,動(dòng)態(tài)負(fù)載波形,關(guān)于動(dòng)態(tài)特性的、判斷、改善的辦法5,Hold-up time(保持時(shí)間)波形,關(guān)于保持時(shí)間的改善方法6,容性帶載起機(jī)輸出波形,作用及設(shè)計(jì)要點(diǎn)

  1,MOSFET 源極流出的電流(Is)波形,分析和改善針對(duì)反激電源開(kāi)發(fā)過(guò)種中的一些具體問(wèn)題,以實(shí)測(cè)波形中的細(xì)節(jié)作探討,以下先上一圖: Is電流波形上的細(xì)節(jié)圖

  

  

  A點(diǎn),Ids電流前端尖峰所引起的原因 B點(diǎn),在下降時(shí)出現(xiàn)的凹口

  A: 首先,這個(gè)尖峰為MOS開(kāi)通時(shí)出現(xiàn)的,根據(jù)反激回路,Ids電流環(huán)為Vbus經(jīng)變壓器原邊、MOS形成回路。原邊線圈電感特性,其電流不能突變,本應(yīng)成線性上升,但由于原邊線圈匝間存在的分布電容,在開(kāi)啟瞬間,使Vbus經(jīng)分存電容C到MOS有一高頻通路,所以形成一時(shí)間很短尖峰,

  

  

  根據(jù)greendot的提示,上圖作修改過(guò),C的位置如下,其中藍(lán)色框內(nèi)為變壓器的原理圖

  

  

  不出所料,是原邊LED上的方案。 也幫你貼上圖:

  

  

  

  

  原邊方案的特點(diǎn)就是線路結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單,可調(diào)的動(dòng)西不多,但可調(diào)的地方關(guān)聯(lián)較多,如電壓檢測(cè)和電流檢測(cè)端,調(diào)節(jié)是相互關(guān)聯(lián)的。工作一段時(shí)間出現(xiàn)掉電流也就這兩點(diǎn)的關(guān)聯(lián),考慮到外設(shè)元件較少出現(xiàn)這種情況,那么首先懷疑IC內(nèi)部基準(zhǔn)的穩(wěn)定性。

  針對(duì)B點(diǎn)的情況,做了以下,大家請(qǐng)看兩個(gè)圖 圖一,用ST21NM60 ,拐點(diǎn)低一些

  

  

  圖二,用IPA60R190C6,拐點(diǎn)要高一些

  

  

  1,從水平線可以看出,第二款MOS在Ids下降時(shí)出現(xiàn)的拐點(diǎn)比第一款MOS要高一點(diǎn)。不同MOS管對(duì)此處的影響不同, 2,ST21NM60這款MOS我從外形上看很像假貨,絲印下的封裝塑面有橫向條紋,引腳很單薄,比一般的ST MOS對(duì)比很薄很軟。這些是題外話,只是說(shuō)無(wú)法從兩款MOS的datasheet異對(duì)比,具體原因大家可以杜撰下。

  下面提上Id和Is波形對(duì)比:

  Id

  

  

  Is

  

  

  當(dāng)然Id波形可看到,關(guān)斷時(shí)刻并不成直線下降,成一定的斜率,關(guān)斷速度稍慢

  2,MOSFET 柵極Vgs波形,關(guān)于密勒平臺(tái)原理及改善

  圍繞反激波形,接著上圖,以下為MOS的驅(qū)動(dòng)電壓波形,在上升沿有明顯的折點(diǎn)C,理想的驅(qū)動(dòng)波形為線性上升無(wú)轉(zhuǎn)折的,所以,為什么會(huì)這樣,大家可給出自已的意見(jiàn)

  

  

  接上圖MOS驅(qū)動(dòng)信號(hào)我們都知道,基本都是標(biāo)準(zhǔn)的方波,但接到MOS時(shí),為什么會(huì)出現(xiàn)這種情況,先了解下MOS內(nèi)的分布參數(shù):

  

  

  

  

  手畫(huà)了張驅(qū)動(dòng)信號(hào)波形來(lái)說(shuō)明下情況設(shè)t0時(shí)刻是驅(qū)動(dòng)波形上升的時(shí)刻 t1時(shí)刻是驅(qū)動(dòng)波形上突后走平的那個(gè)臺(tái)階. 當(dāng)t0-t1時(shí)刻:Ciss=Cgs ,驅(qū)動(dòng)I給Cgs充電,Vgs上升 t1時(shí)刻:Vgs上升到MOS的開(kāi)通電壓,此時(shí)的MOS已開(kāi)通,與此同時(shí)Cgd通過(guò)D-S極放電,當(dāng)Vds<=Vgs時(shí),Cgd開(kāi)始反向充電,Vgs會(huì)突然變小,此時(shí)對(duì)于MOS的輸入電容Ciss=Cgs+Cgd.. Cgd容量的大小直接影響了驅(qū)動(dòng)波形上突點(diǎn)尖峰的大小和那個(gè)平臺(tái)停留的時(shí)間.

  (未完待續(xù)...)

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